冷熱沖擊測(cè)試
常見的是：
產(chǎn)品的電功能
產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)被破壞或強(qiáng)度降
部件的錫開裂現(xiàn)象
材料的劣化 引起化學(xué)作用
密封損壞
溫度范圍：-60℃?150℃
恢復(fù)時(shí)間：<5分鐘 內(nèi)部尺寸：370 * 350 * 330mm （D×W×H） 冷熱沖擊測(cè)試應(yīng)用范圍： PCB可靠性加速測(cè)試 汽車電氣模塊加速壽命測(cè)試 LED零件加速測(cè)試... 冷熱沖擊測(cè)試 溫度變化對(duì)產(chǎn)品的影響： 組件的涂層脫落，灌封材料和密封劑破裂，甚至密封的外殼破裂，填料泄漏等 導(dǎo)致組件的電氣性能下降； 由不同材料組成的產(chǎn)品，溫度變化時(shí)，產(chǎn)品加熱不均勻，導(dǎo)致產(chǎn)品變形，密封產(chǎn)品破裂，玻璃或玻璃器皿和光學(xué)器件破碎； 溫差大，在低溫下會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品表面凝結(jié)或結(jié)霜。 它在高溫下蒸發(fā)或熔化，這種反復(fù)作用的結(jié)果導(dǎo)致并加速了產(chǎn)品的腐蝕。 在每分鐘40度的溫度變化率下，在溫度急劇變化的極端惡劣條件下進(jìn)行高溫和低溫沖擊測(cè)試。 該測(cè)試不能真正模擬實(shí)際情況。 其目的是在試件上施加較大的應(yīng)力，以加快試件的老化因子，從而使試件在環(huán)境因素的影響下有可能損壞系統(tǒng)設(shè)備和組件，從而確定試件的設(shè)計(jì)是否正確或是否正確制造。 冷熱沖擊測(cè)試溫度變化的環(huán)境影響： 玻璃產(chǎn)品和光學(xué)設(shè)備破裂。 活動(dòng)部件被卡住或松動(dòng)。 結(jié)構(gòu)分離。 電氣變化。 由于快速凝結(jié)或結(jié)冰而導(dǎo)致的電子或機(jī)械故障。 裂紋以顆粒狀或條紋狀出現(xiàn)。 不同材料的不同收縮或膨脹特性。 變形或破裂的組件。 表面油漆的裂縫。 氣密室漏氣。 冷熱沖擊測(cè)試
