可靠性試驗的目的是確定通過可靠性鑒定試驗并轉入批量生產的產品在規(guī)定的條件下是否滿足規(guī)定的可靠性要求，并驗證產品的可靠性是否隨著批量生產過程中工藝、工裝、工作流程、零件質量等因素的變化而降。只有通過這些，產品性能才可信，產品質量才過硬。
電子產品可靠性需要測試哪些項目:114測試中心有低溫測試、高溫測試、濕熱測試、霉菌測試、鹽霧測試、低壓測試、振動測試、沖擊測試、碰撞測試、跌落測試等。
1.低溫試驗
根據GB/T2423.1—89《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:低溫試驗的試驗方法》；
GB/t 2423.22-87電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗方法
進行低溫試驗和溫度變化試驗。
溫度范圍:-70℃ ~ 10℃。
2.高溫試驗
根據GB/T2423.2—89《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:高溫試驗的試驗方法》；
GB/t 2423.22-87電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗方法
進行高溫試驗和溫度變化試驗。
溫度范圍:10℃ ~ 210℃。
3.濕熱試驗
根據GB/T2423.3—93《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法恒濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:交變濕熱試驗方法
進行恒定濕熱試驗和交替濕熱試驗。
濕度范圍:30% RH ~ % RH。
4.霉菌試驗
根據GB/T2423.16—90《電工電子產品環(huán)境試驗—第2部分:試驗方法—霉菌試驗》，進行霉菌試驗。
5.鹽霧試驗
鹽霧試驗應按照GB/T2423.17—93《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:鹽霧試驗方法》進行。
6.低壓試驗
根據GB/T2423.21—92《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法:低壓試驗》；
GB/T2423.25—92電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法低溫/低壓試驗；
GB/T2423.26—92電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:高溫/低壓試驗方法；
進行低壓試驗、高低溫/低壓試驗。范圍:70℃ ~ 100℃，0 ~ 760 mmHg，20% ~ 95% RH。
7.振動試驗
根據GB/t 2423.10-95《電工電子產品環(huán)境試驗-第2部分:試驗方法-振動試驗》。
頻率范圍(機械振動臺):5 ~ 60 Hz(定頻振動5 ~ 80 Hz)，大位移幅度3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動臺):5 ~ 3000 Hz，大位移25 MMP-P。
8.沖擊試驗
沖擊試驗應按照GB/T2423.5—95《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法沖擊試驗》進行。沖擊加速度范圍:(50 ~ 1500) m/s2。
9.碰撞試驗
根據GB/T2423.6—95《電工電子產品環(huán)境試驗—第2部分:試驗方法—碰撞試驗》。
10.落錘試驗
根據GB/T2423.7—95《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法——傾倒和傾覆試驗》；
GB/T2423.8—95電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法自由落體試驗。
上述提到的電子產品低溫測試、高溫測試、濕熱測試、鹽霧測試、振動測試、沖擊測試、碰撞測試、跌落測試等一系列可靠性試驗，艾斯瑞儀器均有生產，若有意向，歡迎搜索“艾斯瑞儀器”，期待與您合作共贏。
