產(chǎn)品的低氣壓可靠性測(cè)試重要，因?yàn)椴粌H影響生產(chǎn)公司的未來，也影響用戶的安全。可靠性好的產(chǎn)品不僅可以降公司的維護(hù)成本，還可以快速發(fā)揮 作用，大大升公司形象，增加公司收入。
鹽是常見的化合物之一。鹽可以在海洋、大氣、地表、湖泊和河流中找到。因此，避免暴露在鹽霧中是較困難的。鹽霧環(huán)境對(duì)電氣電子產(chǎn)品的影響僅次于溫度、振動(dòng)、濕熱和粉塵。
鹽霧試驗(yàn)是一種環(huán)境試驗(yàn)，主要利用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來評(píng)估產(chǎn)品或金屬材料的耐腐蝕性。測(cè)試鹽霧腐蝕后樣品性能的變化以及鍍層或鐵殼金屬零件對(duì)鹽霧的耐蝕性。
提供中性鹽霧試驗(yàn)和酸性鹽霧試驗(yàn)。
20世紀(jì)70年代，我國(guó)開始在電子工業(yè)和航空工業(yè)中初步形成可靠性研究體系，并應(yīng)用于 產(chǎn)品。其他行業(yè)的可靠性工作起步較晚，差距較大，落后 國(guó)20 ~ 30年。
產(chǎn)品在運(yùn)輸和使用過程中，可能會(huì)面臨外部溫度的突然變化、溫濕度的周期性變化、空氣中高鹽霧的侵蝕、外部環(huán)境引起的振動(dòng)、沖擊和跌落等。因此，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中應(yīng)考慮上述因素。
低氣壓 Testing常用于驗(yàn)證部件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在常溫低壓環(huán)境、低溫低壓復(fù)合環(huán)境、高溫低壓復(fù)合環(huán)境和高溫低壓復(fù)合環(huán)境下的儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用能力。測(cè)試的嚴(yán)格程度取決于溫度、氣壓和暴露時(shí)間。
高空試驗(yàn)機(jī)(低氣壓試驗(yàn)機(jī))，溫度范圍為-70℃ ~+150℃，壓力范圍為101.3kPa~0.5kPa，可用于檢測(cè)低氣壓狀態(tài)下電子產(chǎn)品及元器件的穩(wěn)定性。
參考標(biāo)準(zhǔn):
IEC 60068-2-40:1983 基本環(huán)境試驗(yàn)程序第2部分:試驗(yàn)Z/AM:冷/低氣壓組合試驗(yàn)
2423.25IEC-2008年 電子電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)
IEC 60068-2-41:1983 測(cè)試Z/BM:組合干熱/低氣壓測(cè)試
2423.26IEC-2008年 測(cè)試Z/BM:高溫/低氣壓綜合測(cè)試
國(guó)際電工委員會(huì)60068-2-13:1983 測(cè)試M:低氣壓
GB2423.21-2008測(cè)試M: 低氣壓
