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老化試驗(yàn)箱：PCT和HAST有什么區(qū)別呢？
Pct和Hast主要用于半導(dǎo)體封裝的吸濕能力，當(dāng)被測(cè)產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測(cè)試時(shí)，水分會(huì)沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。廣泛用于測(cè)試EVA膠水、TPT薄膜、光伏玻璃、PCB、多層電路板、ic半導(dǎo)體、LCD光學(xué)器件、電子元器件、塑封器件/材料、磁鐵/磁性材料等的密封性能。測(cè)試光伏組件的耐壓、氣密性、失重試驗(yàn)、飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)、加速老化篩選試驗(yàn)、高可靠性和壽命加速試驗(yàn)。常見(jiàn)的失效模式有有源金屬化區(qū)域腐蝕導(dǎo)致的開(kāi)路，或污染導(dǎo)致的封裝引腳間短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的是增加環(huán)境應(yīng)力(如溫度)和工作應(yīng)力(如施加在產(chǎn)品上的電壓和負(fù)載)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
那么PCT和HAST有什么區(qū)別呢？為方便客戶選擇，艾斯瑞儀器做如下簡(jiǎn)單描述，希望對(duì)客戶選擇有所幫助:HAST試驗(yàn)箱的主要作用是:溫度、壓力、濕度可以隨用戶的試驗(yàn)條件隨意設(shè)定，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即不飽和控制。也就是說(shuō)，可以根據(jù)用戶的測(cè)試條件任意設(shè)置測(cè)試溫度、壓力和濕度。這時(shí)就會(huì)出現(xiàn)一個(gè)問(wèn)題:非飽和狀態(tài)下濕度的準(zhǔn)確性。艾斯瑞儀器使用的濕度檢測(cè)裝置是通過(guò)干濕球?qū)Ρ龋鶕?jù)試驗(yàn)箱內(nèi)的真實(shí)環(huán)境來(lái)顯示和控制的，jue對(duì)不是通過(guò)換算關(guān)系來(lái)顯示和控制的，所以其準(zhǔn)確性是jue對(duì)有保證的。
PCT試驗(yàn)箱的主要作用是:壓力是溫度對(duì)應(yīng)的飽和壓力顯示，濕度也是溫度對(duì)應(yīng)的飽和蒸汽壓力。也就是說(shuō)，測(cè)試溫度是隨著用戶的測(cè)試條件確定的，飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度也是確定的。溫度對(duì)應(yīng)的飽和蒸汽壓力有對(duì)應(yīng)關(guān)系。
HAST試驗(yàn)箱規(guī)格要求:
1.內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)，結(jié)合國(guó)家安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中出現(xiàn)結(jié)露滴漏現(xiàn)象，避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受到過(guò)熱蒸汽的直接沖擊，影響試驗(yàn)結(jié)果。
2.配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架，或可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格免費(fèi)定制特殊產(chǎn)品架。
3.HAST測(cè)試箱標(biāo)配8個(gè)測(cè)試樣本信號(hào)應(yīng)用端子，端子數(shù)量也可根據(jù)需要增加。
4.有專門(mén)的樣品架，避免復(fù)雜的布線操作。
