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HAST老化試驗(yàn)箱的放置條件

HAST老化試驗(yàn)箱又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),適用在IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗(yàn), 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗(yàn)時(shí), 可以節(jié)省大量時(shí)間, 當(dāng)測試溫度越高, 壓力越大,測試時(shí)間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗(yàn)上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 升產(chǎn)品競爭力。

HAST老化試驗(yàn)箱的放置條件
1.溫度:5 ~ 40℃；
2.相對濕度:不超過85%；
3.氣壓:86 ~ 106千帕；
4.電源:交流電壓220±22V或380±38V頻率50±0.5hz；；
5.周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、強(qiáng)磁場和腐蝕性氣體；
6.無陽光直射或其他直接輻射的冷熱源；

hast老化試驗(yàn)箱周圍沒有強(qiáng)氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制對流時(shí)，氣流不宜直接吹向箱體。老化試驗(yàn)箱有大觀察窗，帶照明燈，保持箱內(nèi)明亮，鋼化玻璃，隨時(shí)清晰觀察箱內(nèi)情況。

箱體采用超細(xì)玻璃纖維保溫棉保溫，可避免不必要的能量損失。箱子左側(cè)有一個(gè)50mm的測試孔，可用于外接測試電源線或信號(hào)線。通風(fēng)的時(shí)間和頻率可以任意設(shè)定。

二層可自由調(diào)節(jié)高度的老化試驗(yàn)箱采用外來加熱氣流方式，解決了原有轉(zhuǎn)盤溫度不均勻的固有缺陷，極大地提高了樣品放置的安全性。有效空間利用率是原來轉(zhuǎn)盤的200%以上。適用于電子元器件、橡膠件等材料在高溫下的老化適應(yīng)性試驗(yàn)。新型老化試驗(yàn)箱采用LTDE可編程控制系統(tǒng)，可在額定溫度范圍內(nèi)根據(jù)工作要求編程升溫、恒溫、待用。操作人員設(shè)置好程序后，儀器會(huì)按照程序工作，完成后自動(dòng)關(guān)機(jī)(等待使用)。

技術(shù)指標(biāo):
1.溫度范圍:-60℃ ~ 150℃
2.濕度范圍:30 ~ 98% RH(在25℃ ~ 80℃時(shí))
3.溫度均勻性:≤2℃(空載)
4.濕度均勻性:+2，-3%RH
5.溫度波動(dòng):0.5℃(空載)
6.濕度波動(dòng):2%
7.溫度偏差:2℃
8.濕度偏差:2%
9.冷卻速度:0.7 ~ 1.0℃/分鐘
10.升溫速率:1.0 ~ 3.0℃/分鐘
11.時(shí)間設(shè)定范圍:1 ~ 9999 h。
12.濕度變化范圍:40 ~ 98% RH。

HAST老化試驗(yàn)箱的放置條件

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