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電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測(cè)試？
電子產(chǎn)品為什么要進(jìn)行高低溫老化測(cè)試？有兩種原因。
一種是因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品的制造過(guò)程中總有一個(gè)步驟，那就是高低溫老化試驗(yàn)。那么，為什么電子產(chǎn)品要經(jīng)過(guò)高低溫老化測(cè)試呢？相信很多人都想過(guò)這個(gè)問(wèn)題，所以今天就請(qǐng)跟隨環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家艾斯瑞小伍(高低溫老化箱廠家)一起去探索吧。
隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成度越來(lái)越高，結(jié)構(gòu)越來(lái)越精細(xì)，工序越來(lái)越多，制造工藝越來(lái)越復(fù)雜，因此在制造過(guò)程中會(huì)存在一些潛在的缺陷。電子產(chǎn)品制造時(shí)，由于設(shè)計(jì)、原材料或工藝措施不合理而引起的質(zhì)量問(wèn)題有兩種:
為產(chǎn)品性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；
還有一種潛在缺陷，一般測(cè)試方法無(wú)法發(fā)現(xiàn)，但在使用過(guò)程中需要逐漸暴露出來(lái)，如硅片表面污染、結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定、焊腔、芯片與封裝熱阻不匹配等。
一般這種缺陷只有在元器件在額定功率和正常工作溫度下工作1000小時(shí)左右才能全激(暴露)。顯然，對(duì)每個(gè)部件進(jìn)行1000小時(shí)的測(cè)試是不現(xiàn)實(shí)的，因此有必要施加熱應(yīng)力和偏壓，如高溫功率應(yīng)力測(cè)試，以加速此類缺陷的早期暴露。也就是說(shuō)，對(duì)電子產(chǎn)品施加熱、電、機(jī)械或各種綜合外應(yīng)力，模擬惡劣的工作環(huán)境，除加工應(yīng)力和殘留溶劑等。，從而使?jié)撛诠收咸崆俺霈F(xiàn)，使產(chǎn)品通過(guò)故障初期的浴缸特性，盡快進(jìn)入高度可靠的穩(wěn)定期。
通過(guò)高溫老化，可以提前暴露元器件的缺陷、焊接、裝配等生產(chǎn)過(guò)程中存在的隱患。老化后可以測(cè)量電氣參數(shù)，篩選出有故障或變量值的元器件，盡可能除產(chǎn)品早期故障正常使用，保證出廠的產(chǎn)品經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。
